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新聞詳情
覆層測(cè)厚儀的介紹
日期:2025-02-05 20:02
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摘要:
覆層測(cè)厚儀是*新研發(fā)的新產(chǎn)品,與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn):
1. 測(cè)量速度快:測(cè)量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上**能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高;
3. 穩(wěn)定性:測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品;
4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文;
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
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