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科電MCW-2010A渦流漆膜測(cè)厚儀手持儀器參數(shù)配置
日期：2025-02-04 08:27
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摘要：
科電MCW-2010A渦流漆膜測(cè)厚儀手持儀器參數(shù)配置
MCW-2010A型（渦流）鍍層測(cè)厚儀是科電公司的新型產(chǎn)品。它采用抗干擾技術(shù)、測(cè)量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內(nèi)置探頭全量程測(cè)量、機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷；且具有欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，其性能已經(jīng)超越同類儀器的水平。
MCW-2010A鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍：0~1200um
2、測(cè)量誤差 lt;3%±1um
3、小示值：1um
4、顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量：內(nèi)置探頭全量程測(cè)厚
(2).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值、...
科電MCW-2010A渦流漆膜測(cè)厚儀手持儀器參數(shù)配置
MCW-2010A型（渦流）鍍層測(cè)厚儀是科電公司的新型產(chǎn)品。它采用抗干擾技術(shù)、測(cè)量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內(nèi)置探頭全量程測(cè)量、機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷；且具有欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，其性能已經(jīng)超越同類儀器的水平。MCW-2010A鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍：0~1200um
2、測(cè)量誤差 lt;3%±1um
3、小示值：1um
4、顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量：內(nèi)置探頭全量程測(cè)厚
(2).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值、小值
(3).校準(zhǔn)：可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(4).電量：具有欠壓顯示功能
(5).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示
(6).關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式
6、電源：兩節(jié)1.5v電池
7、功耗：大功耗110mw
8、外形盡寸：115mm*45mm*25mm
9、重量：100g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度：0℃~ 40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體小厚度：0.3mm
12、基體小平面的直徑：7mm
13、小曲率半徑：凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂
*臨界厚度值：工件基體厚度大于1mm時(shí)，其鍍層厚度的測(cè)量不受基體厚度影響。
原理：
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
